تأثیر فشار اکسیژن بر ساختار، هدایت الکتریکی و نفوذپذیری اکسیژن لایه های نازک ba۰/۵sr۰/۵co۰/۸fe۰/۲o۳-δ ساخته شده با لایه نشانی لیزر پالسی

نویسندگان

سمیرا دانشمندی

s daneshmandi isfahan university of technologyدانشگاه صنعتی اصفهان پریسا سهرابی

p sohrabi isfahan university of technologyدانشگاه صنعتی اصفهان مهدی رنجبر

m ranjbar isfahan university of technologyدانشگاه صنعتی اصفهان هادی سلامتی

h salamati isfahan university of technologyدانشگاه صنعتی اصفهان

چکیده

در این مقاله، لایه ­ های نازک ba0/5sr0/5co0/8fe0/2o3-δ (bscf) روی زیر لایه 3 (sto) srtio (100) به روش لایه نشانی لیزر پالسی ( pld ) در فشارهای مختلف اکسیژن لایه نشانی شد. برای تهیه لایه های نازک، از نانوذرات پودر bscf که با روش سل-ژل با هدف کاربرد در ساخت کاتد پیل سوختی اکسید جامد تهیه شدند، استفاده شد. ساختار بلوری نمونه ­ ها­ توسط پراش پرتو x ، (xrd) مطالعه شد. نتایج xrd نشاندهنده ساختار مکعبی برای نمونه حجمی و لایه­های نازک بود. مورفولوژی سطح لایه­ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی ( afm ) بررسی شد که بیانگر افزایش زبری سطح (rms) نمونه­ها با افزایش فشار اکسیژن بود. اندازه­گیری مقاومت الکتریکی به روش چهار نقطه­ای برای نمونه حجمی و لایه­های نازک، به ترتیب از دمای اتاق تا دمای 600 º c و 800 º c در هوا انجام شد. با افزایش دما تا 400 ºc ، افت شدید مقاومت نسبت به مقدار اولیه مشاهده شد که توسط مدل جهش پلارون­های کوچک قابل توجیه می­باشد. انرژی فعالسازی جهش پلارونی از طریق معادله آرنیو س محاسبه شد. همچنین ضریب تبادل سطحی ( kchem ) لایه نازک bscf به روش واهلش رسانندگی الکتریکی در چهار دمای مختلف اندازه­گیری شد. نتایج حاصل وجود یک رابطه خطی بین kchem و معکوس دمای مطلق را پیشنهاد می­دهد.

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

تأثیر فشار اکسیژن بر ساختار، هدایت الکتریکی و نفوذپذیری اکسیژن لایه های نازک Ba0/5Sr0/5Co0/8Fe0/2O3-δ ساخته شده با لایه نشانی لیزر پالسی

 In this paper, Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ (BSCF) thin films were deposited on single crystal SrTiO3 (STO) (100) by pulsed laser deposition (PLD) technique at different pressures of oxygen. Crystal structure of bulk and thin film samples was studied by x-ray diffraction (XRD). The XRD results indicate that both bulk and thin film samples have cubic structures. AFM micrographs showed an increase i...

متن کامل

تأثیر فشار اکسیژن بر ساختار و هدایت الکتریکی لایه های نازکba۰.۵sr۰.۵co۰.۸fe۰.۲o۳-δ در لایه نشانی لیزر پالسی

در این مقاله، پودرba0.5 sr0.5 co0. 8 fe0.2 o3-δ (bscf)  با هدف استفاده به عنوان کاتد پیل سوختی اکسید جامد به روش سل- ژل ساخته شد. همچنین، لایه های نازک  bscf روی زیر لایه(sto)  srtio3، به روش لایه نشانی لیزر پالسی (pld) در فشارهای مختلف اکسیژن لایه نشانی شد. ساختار بلوری این نمونه ها توسط پراش پرتو x (xrd) و مورفولوژی سطح لایه ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی (afm) بررسی شد. اندازه گیری مقاومت الکت...

متن کامل

تأثیر فشار اکسیژن بر ساختار و هدایت الکتریکی لایه‌های نازکBa0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ در لایه‌نشانی لیزر پالسی

در این مقاله، پودرBa0.5 Sr0.5 Co0. 8 Fe0.2 O3-δ (BSCF)  با هدف استفاده به عنوان کاتد پیل سوختی اکسید جامد به روش سل- ژل ساخته شد. همچنین، لایه‌های نازک  BSCF روی زیر لایه(STO)  SrTiO3، به روش لایه نشانی لیزر پالسی (PLD) در فشارهای مختلف اکسیژن لایه نشانی شد. ساختار بلوری این نمونه‌ها توسط پراش پرتو X (XRD) و مورفولوژی سطح لایه‌ها...

متن کامل

تاثیر زمان لایه نشانی بر کیفیت سطح و هدایت الکتریکی پوشش های کامپوزیتی کربن- نیکل

در این کار ابعاد برخالی(فرکتالی) و هدایت الکتریکی لایه­های کربن– نیکل در زمان­های لایه­نشانی 50 تا 600 ثانیه اندازه  گیری شدند. به علت وجود مولفه­های برخالی در توپوگرافی­های سطح، چگالی طیفی توان(PSD) تمام لایه­ها در محدوده فرکانس­های بالا تغییراتی به صورت عکس قانون توانی نشان می­دهند. ابعاد برخالی و توپوگرافی لایه­های کربن ­- نیکل از 50 تا 180 ثانیه افزایش یافته­اند، با این حال در 600 ثانیه، ای...

متن کامل

منابع من

با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید


عنوان ژورنال:
پژوهش فیزیک ایران

جلد ۱۳، شماره ۱، صفحات ۵۷-۶۳

میزبانی شده توسط پلتفرم ابری doprax.com

copyright © 2015-2023